雷達圖是一種表現群組資料與整組資料間關係的圖表。雷達圖將群組資料依序標繪在雷達圖的輻條上,然後依照數值的大小以雷達圖的中心為原點向外標出頂點。這樣一眼就可以判斷出群組資料與整組資料間的關係了。
範例中,我們使用SAS EG的範例資料FAILURE
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![1 1](https://blogs.sas.com/content/sastaiwan/files/2020/02/52d024811b5ed.jpg)
資料說明:
在金屬氧化物半導體(MOS)電容器的生產過程中,觀察並記錄該製程5天內發生故障的原因(變數Cause)及次數(變數Count)
其中故障的因素可分為— Contamination, Corrosion, Doping, Metallization, Miscellaneous, Oxide Defect, Silicon Defect 七大類。
![2 2](https://blogs.sas.com/content/sastaiwan/files/2020/02/52d02485a8b68.jpg)
在工作的快捷選單中選擇<圖形>→<雷達圖>
![3 3](https://blogs.sas.com/content/sastaiwan/files/2020/02/52d02488b992b.jpg)
於左側的選單中選擇<資料>,將要指派的欄(A)中的變數,拖曳至右側工作角色(T)中的要繪製的欄中;接著將要指派的欄(A)中的變數拖曳至右側工作角色(T)中的次數計數欄中。
![4 4](https://blogs.sas.com/content/sastaiwan/files/2020/02/52d0248d306cb.jpg)
於左側的選單中選擇<外觀>→<雷達>,選擇欲繪製的雷達類型,按下<執行>。
![5 5](https://blogs.sas.com/content/sastaiwan/files/2020/02/52d02491316a4.jpg)
執行結果產生雷達圖如下,由圖形中各個故障原因的輻條高度,我們可以發現污染(Contamination)和氧化缺陷(Oxide Defects)是最常在製程中出現的問題。
![6 6](https://blogs.sas.com/content/sastaiwan/files/2020/02/52d024934edef.jpg)
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